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采用傳統的熔融-淬冷法制備了系列Ge20Te80-xIx(x=2,4,6,8mol%)玻璃樣品.利用X射線衍射儀、掃描電子顯微鏡、差熱分析儀等設備系統測試了玻璃結構和物化性質,分析了鹵素I對玻璃形成及穩定性的影響;利用分光光度計、紅外光譜儀等研究了玻璃光譜性質,分析了I對玻璃的短波吸收及紅外透過光譜的影響;利用Tauc方程計算了樣品的直接和間接光學帶隙.實驗結果表明:I的引入,降低了Te的金屬性,提高了Te基硫系玻璃的成玻能力;隨著鹵素I含量的增加,玻璃的密度減小,摩爾體積增大,且短波吸收截止邊發生紅移,光學帶隙減小;I的引入提高了玻璃的熱穩定性,其中玻璃組分為Ge20Te72I8樣品熱穩定性最好,其特征溫度(ΔT)達到121℃;各Ge-Te-I玻璃樣品均具有良好的紅外透過性能,其紅外透過范圍為1.8~25μm.