電離輻射防護涂料的研究
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反熔絲FPGA電路瞬時電離輻射效應及加固設計
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針對反熔絲FPGA電路,在"強光一號"加速器上進行了瞬時電離輻射試驗,發(fā)現γ射線瞬時電離輻射會導致FPGA內部寄存器清零,使FPGA運行狀態(tài)被初始化。為了解決該問題,設計了一種"FPGA+FRAM(鐵電存儲器)+特殊時序讀寫軟件"的加固電路,通過γ射線瞬時電離輻射試驗證明:該加固電路實現了瞬時電離輻射狀態(tài)下FPGA內部重要數據的實時保存與恢復,成功規(guī)避了FPGA電路的瞬時電離輻射效應。
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