變壓器電容式套管電容量及介損的正確測量
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電容式套管介損測量異常分析
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通過對電容套管介質損耗試驗,我們能夠有效地發現因電容套管制造工藝不良或末屏斷裂而引起的內部局部放電缺陷,及早地避免因絕緣缺陷而引發的套管爆炸事故,介質損耗試驗中通常會遇到電容量Cx及介質損值tgδ的異常變化,文章針對主絕緣介損值變化異常,而電容量變化不顯著的問題進行分析及處理,有效的判斷出是末屏小套管銹蝕引起的介質損耗測試數據異常,建議對電容套管的末屏絕緣狀況引起關注。
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