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更新日期: 2025-05-23

三波長光干涉法測量磁盤/磁頭納米級氣膜厚度

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三波長光干涉法測量磁盤/磁頭納米級氣膜厚度 4.7

給出三波長光干涉測量納米級薄膜厚度的方法。通過對某負(fù)壓磁頭/玻璃盤空氣薄膜的測試表明:三波長光干涉法具有精度高、容易實施等優(yōu)點,能夠滿足磁盤/磁頭潤滑副設(shè)計、制造及研究的需要。

納米級精度分光路雙頻干涉度量系統(tǒng)的設(shè)計 納米級精度分光路雙頻干涉度量系統(tǒng)的設(shè)計 納米級精度分光路雙頻干涉度量系統(tǒng)的設(shè)計

納米級精度分光路雙頻干涉度量系統(tǒng)的設(shè)計

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為完成快速、精確的外觀輪廓度量,設(shè)計了一種新型納米級精度分光路雙頻干涉度量系統(tǒng)。系統(tǒng)由低頻差雙頻激光干涉度量模塊和微探頭及二維工作臺兩部分組成。微探針以輕敲式接近樣品至幾十納米時,受原子力作用發(fā)生偏轉(zhuǎn),利用雙頻干涉模塊度量其縱向偏轉(zhuǎn)量,并對樣品進行梳狀式度量得到外觀形貌。根據(jù)雙頻激光的實際光源,對原有雙頻干涉度量理論進行了改進提高。進行了系統(tǒng)組建和實驗驗證。結(jié)果表明:系統(tǒng)具有納米級精度,可用于超精樣品外觀輪廓度量。

共光路雙頻外差干涉法測量模擬磁頭磁盤靜態(tài)間隙 共光路雙頻外差干涉法測量模擬磁頭磁盤靜態(tài)間隙 共光路雙頻外差干涉法測量模擬磁頭磁盤靜態(tài)間隙

共光路雙頻外差干涉法測量模擬磁頭磁盤靜態(tài)間隙

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提出了一種共光路外差干涉測量模擬磁頭磁盤靜態(tài)間隙的方法,該方法以低頻差橫向塞曼雙頻激光器作為光源,采用專門設(shè)計的雙折射透鏡分光和相位測量技術(shù),實現(xiàn)了對光波半波長的3600細(xì)分,從而使測量分辨率達(dá)到0.1nm。原理實驗結(jié)果表明,該系統(tǒng)在無恒溫的普通實驗室條件下,1h內(nèi)穩(wěn)定測量實驗結(jié)果漂移小于4nm;利用壓電陶瓷(pzt)微動工作臺(步進分辨率1nm)驅(qū)動反射鏡(模擬磁頭)產(chǎn)生位移,在1μm范圍內(nèi)與該系統(tǒng)測量結(jié)果進行比對,得到線性相關(guān)系數(shù)優(yōu)于0.9998。

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散斑干涉測量鍍膜透明介質(zhì)平板厚度的實驗研究 散斑干涉測量鍍膜透明介質(zhì)平板厚度的實驗研究 散斑干涉測量鍍膜透明介質(zhì)平板厚度的實驗研究

散斑干涉測量鍍膜透明介質(zhì)平板厚度的實驗研究

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散斑干涉測量鍍膜透明介質(zhì)平板厚度的實驗研究 4.5

對應(yīng)用散射干涉法測量鍍膜介質(zhì)平板厚度進行了實驗研究,給出了條紋級數(shù)和測量距離影響實驗結(jié)果的關(guān)系曲線.

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激光干涉儀測量方法

激光干涉儀測量方法

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激光干涉儀測量方法 4.5

激光干涉儀測量方法

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三波長光干涉法測量磁盤/磁頭納米級氣膜厚度熱門文檔

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劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù)

劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù)

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劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 4.5

根據(jù)劈尖等厚干涉原理,采用讀數(shù)顯微鏡作為新的測量手段,研制了磁致伸縮系數(shù)測量裝置,精確測量鋱鏑鐵合金和q235碳素結(jié)構(gòu)鋼在弱磁場中的磁致伸縮系數(shù).該裝置具有測量方法簡單、直觀,且精度很高的特點.

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橋梁振動的激光干涉測量方法

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橋梁振動的激光干涉測量方法 3

橋梁振動的激光干涉測量方法——為了實現(xiàn)對新建橋梁的質(zhì)量檢測及現(xiàn)有橋梁健康狀況的定期檢查,分析和評估橋梁結(jié)構(gòu)振動特性,掌握抗震性能變化情況和趨勢,本文提出了激光干涉測量橋梁振動頻率的方法,克服了現(xiàn)有測量方法精度低、電磁干擾大、傳輸距離受限等缺點...

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線脹系數(shù)的視頻在線光干涉法測量研究 線脹系數(shù)的視頻在線光干涉法測量研究 線脹系數(shù)的視頻在線光干涉法測量研究

線脹系數(shù)的視頻在線光干涉法測量研究

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線脹系數(shù)的視頻在線光干涉法測量研究 4.8

實驗室測量金屬的線脹系數(shù)普遍采用的是光杠桿法,經(jīng)實驗證明光杠桿法存在偶然誤差大、測量精度低、占地空間大等問題,通過利用劈尖的等厚干涉法能夠很好地解決光杠桿法存在的問題.新方法具有溫升范圍小、加熱功率低、測量精度高、操作簡單直觀、占地空間小等優(yōu)點,便于實際教學(xué)中教師的講解、示教和演示,有利于學(xué)生綜合應(yīng)用知識,提高綜合設(shè)計實驗的能力.

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光的干涉法測量金屬細(xì)絲直徑的研究 光的干涉法測量金屬細(xì)絲直徑的研究 光的干涉法測量金屬細(xì)絲直徑的研究

光的干涉法測量金屬細(xì)絲直徑的研究

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光的干涉法測量金屬細(xì)絲直徑的研究 4.7

分析了用相干光測量細(xì)絲直徑的原理和方法,分別用鈉光和氦氖氣體激光測量并計算出同一金屬細(xì)絲的直徑,計算和分析了測量誤差,研究和比較了兩種光源對測量誤差的影響.

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劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù)

劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù)

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劈尖干涉法測量磁致伸縮系數(shù) 4.6

根據(jù)劈尖等厚干涉原理,采用讀數(shù)顯微鏡作為新的測量手段,研制了磁致伸縮系數(shù)測量裝置,精確測量鋱鏑鐵合金和q235碳素結(jié)構(gòu)鋼在弱磁場中的磁致伸縮系數(shù).該裝置具有測量方法簡單、直觀,且精度很高的特點.

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三波長光干涉法測量磁盤/磁頭納米級氣膜厚度精華文檔

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白光干涉自動測量砂輪表面時干涉區(qū)間的確定

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白光干涉自動測量砂輪表面時干涉區(qū)間的確定 4.6

用白光干涉儀自動測量金剛石砂輪表面形貌時,為了獲得更精準(zhǔn)的干涉區(qū)域,在干涉儀所采集到的一系列圖像中,首先通過計算相鄰的2張圖像各像素灰度值的變化從而得到一系列新的灰度圖像。然后計算每幀新圖像的非零點像素的均值和極值,據(jù)此計算得出用于確定干涉區(qū)域的閾值以實現(xiàn)自動掃描。實驗表明:此方法運算速度較快,而且對局部區(qū)域的干涉更敏感,可以更精確地搜索出干涉區(qū)間。采用步進電機和壓電陶瓷二級驅(qū)動,可以在100s內(nèi)實現(xiàn)100μm范圍內(nèi)掃描區(qū)間的自動獲取并實現(xiàn)垂直方向的數(shù)據(jù)采集。

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光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收 光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收 光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收

光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收

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光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收 4.5

研究了氣溶膠粒子的光熱敏效應(yīng)和熱感應(yīng)光致折射率變化,提出了通過增加光熱作用區(qū)個數(shù)來提高探測靈敏度及用低相干干涉法降低成本的方法。建立了光熱低相干干涉法測量大氣氣溶膠吸收系數(shù)的數(shù)學(xué)模型,分析了干涉儀正交狀態(tài)測量和干涉條紋細(xì)分探測兩種方式下的探測靈敏度,討論了低相干偏振干涉情況下的探測限。結(jié)果顯示,在典型條紋細(xì)分情況下理論探測靈敏度可達(dá)1×10-6m-1;增加光熱作用區(qū)m個,探測靈敏度理論值可提高m倍。理論和方法研究證明光熱低相干干涉法具有可直接測量大氣氣溶膠吸收系數(shù)、在線原位、低成本,易于進行溫度修正等優(yōu)點。

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激光干涉儀進行角度測量

激光干涉儀進行角度測量

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激光干涉儀進行角度測量 4.5

sj6000激光干涉儀產(chǎn)品采用美國進口高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高 精度環(huán)境補償模塊、幾何參量干涉光路設(shè)計、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計算機 控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測量。通過激光熱穩(wěn)頻控制技術(shù),實現(xiàn)快速(約6分 鐘)、高精度(0.05ppm)、抗干擾能力強、長期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出,采用不同的光學(xué)鏡 組可以測量出線性、角度、直線度、平面度和垂直度等幾何量,并且可以進行動態(tài)分析。 sj6000激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、最高測速下分辨率高、測量范 圍大等優(yōu)點。通過與不同的光學(xué)組件結(jié)合,可以實現(xiàn)對直線度、垂直度、角度、平面度、平 行度等多種幾何精度的測量。在相關(guān)軟件的配合下,還可以對數(shù)控機床進行動態(tài)性能檢測, 可以進行機床振動測試與分析,滾珠絲桿的動態(tài)特性分析,驅(qū)動系統(tǒng)的響應(yīng)特性分析,導(dǎo)軌 的動態(tài)特性分析等,具有極高的精度

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雙縫干涉測量超聲波聲速 雙縫干涉測量超聲波聲速 雙縫干涉測量超聲波聲速

雙縫干涉測量超聲波聲速

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雙縫干涉測量超聲波聲速 4.8

根據(jù)光學(xué)中楊氏雙縫干涉實驗原理設(shè)計出超聲波雙縫干涉測量聲速的實驗裝置.運用波的干涉原理,將聲波接收器接收到的干涉信號輸入到示波器,通過示波器來顯示干涉極大和干涉極小現(xiàn)象,利用分光計的雙游標(biāo)讀數(shù)原理測量干涉極大和干涉極小對應(yīng)的θ角.通過實驗數(shù)據(jù)計算得出干涉極大和極小對應(yīng)的聲速分別為(336.2±0.3)m/s,(338.8±0.2)m/s.

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基于光反饋自混合干涉的振動測量研究

基于光反饋自混合干涉的振動測量研究

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基于光反饋自混合干涉的振動測量研究 4.7

?1994-2009chinaacademicjournalelectronicpublishinghouse.allrightsreserved.http://www.cnki.net ?1994-2009chinaacademicjournalelectronicpublishinghouse.allrightsreserved.http://www.cnki.net ?1994-2009chinaacademicjournalelectronicpublishinghouse.allrightsreserved.http://www.cnki.net ?1994-2009chinaacademicjournalelectronicpublishinghouse.allrightsr

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激光干涉原理在振動測量中的應(yīng)用

激光干涉原理在振動測量中的應(yīng)用

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激光干涉原理在振動測量中的應(yīng)用 4.6

激光干涉原理在振動測量中的應(yīng)用 引言 振動量值的計量是計量科學(xué)中一個非常重要的方面。在現(xiàn)實中,描述振動特性的最常用 的量值是位移、速度、加速度。常用的測振技術(shù)是接觸式測量。在測量物體上安裝加速度傳 感器,利用加速度傳感器的電荷輸出信號實現(xiàn)加速度-速度-位移的相關(guān)測量。如果測量較小 物體的振動,附加的傳感器質(zhì)量往往影響被測物體的振動,從而產(chǎn)生測量誤差;而且一些工 作場合因被測物體表面影響或是測量條件的限制往往不允許在被測物體表面安裝測振傳感 器。因此設(shè)計和開發(fā)新型的非接觸式、高精度、實時性的測振技術(shù)一直是工程科學(xué)和技術(shù)領(lǐng) 域中的重要任務(wù)。 由于激光的方向性、單色性和相干性好等特性,使激光測量技術(shù)廣泛應(yīng)用于各種軍事目 標(biāo)的測量和精密民用測量中,尤其是在測量各種微弱振動、目標(biāo)運動的速度及其微小的變化 等方面。 1激光干涉測振原理 激光干涉測振技術(shù)是以激光干涉原理為基礎(chǔ)進

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全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用 全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用 全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用

全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用

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全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用 4.6

為直接測量霍普金森壓桿加載下試樣徑向應(yīng)變位移,提出了一種穩(wěn)幅輸出的新型全光纖位移干涉技術(shù)。該技術(shù)采用半導(dǎo)體光放大器與摻餌光纖放大器的組合對來自試樣表面的反射光進行動態(tài)飽和式放大。理論研究表明,該新型全光纖位移干涉儀能夠輸出振幅穩(wěn)定的干涉信號,消除試樣表面反射光強變化對位移測量精度的影響。實驗結(jié)果表明,新型全光纖位移干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)對霍普金森壓桿加載下試樣彈性應(yīng)變和塑性應(yīng)變的高精度非接觸測量。

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基于適度光反饋自混合干涉技術(shù)的振動測量

基于適度光反饋自混合干涉技術(shù)的振動測量

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基于適度光反饋自混合干涉技術(shù)的振動測量 4.3

文章編號:025322239(2007)082143025 基于適度光反饋自混合干涉技術(shù)的振動測量3 禹延光 郭常盈 葉會英 (鄭州大學(xué)信息工程學(xué)院,鄭州450052) 摘要: 光反饋自混合干涉技術(shù)是一種新浮現(xiàn)的有別于傳統(tǒng)雙光束干涉的一類新的測試技術(shù)。為了在適度光反饋 下進行振動的精密測量,提出了一種基于適度光反饋自混合干涉技術(shù)的振動測量方法。經(jīng)對光反饋自混合干涉信 號條紋分析,發(fā)現(xiàn)通過選定合適的光反饋水平及激光器線寬展寬因數(shù),可以得到鋸齒干涉條紋。這種干涉信號不 僅包含振動幅度信息也包含振動方向信息。該振動測量方法利用鋸齒干涉條紋的特點,首先通過條紋記數(shù)實現(xiàn)大 范圍振幅粗測,具有半波長位移分辨力;然后基于適度光反饋下小數(shù)條紋的特點,給出了小于半波長位移測量的線 性表達(dá)式,從而實現(xiàn)位移的精測。仿真計算表明,該方法可以實現(xiàn)大量程高分辨力振動位

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利用點光源干涉測量平板的楔角 利用點光源干涉測量平板的楔角 利用點光源干涉測量平板的楔角

利用點光源干涉測量平板的楔角

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利用點光源干涉測量平板的楔角 4.5

運用光的干涉理論,分別討論了點光源在楔形平板情況下的干涉條紋及光強分布,并推導(dǎo)出測量平板楔角的一種新方法。運用該方法時平板楔角進行了測量,獲得了精確的結(jié)果(不確定度<10-5)。

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全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用

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全光纖位移干涉技術(shù)在SHPB實驗測量中的應(yīng)用 4.5

為直接測量霍普金森壓桿加載下試樣徑向應(yīng)變位移,提出了一種穩(wěn)幅輸出的新型全光纖位移干涉技術(shù)。該技術(shù)采用半導(dǎo)體光放大器與摻餌光纖放大器的組合對來自試樣表面的反射光進行動態(tài)飽和式放大。理論研究表明,該新型全光纖位移干涉儀能夠輸出振幅穩(wěn)定的干涉信號,消除試樣表面反射光強變化對位移測量精度的影響。實驗結(jié)果表明,新型全光纖位移干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)對霍普金森壓桿加載下試樣彈性應(yīng)變和塑性應(yīng)變的高精度非接觸測量。

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采用白光干涉色色調(diào)信息測量零級波片延遲量的方法 采用白光干涉色色調(diào)信息測量零級波片延遲量的方法 采用白光干涉色色調(diào)信息測量零級波片延遲量的方法

采用白光干涉色色調(diào)信息測量零級波片延遲量的方法

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采用白光干涉色色調(diào)信息測量零級波片延遲量的方法 4.5

介紹了一種基于白光干涉色的色調(diào)值計算零級波片延遲量的方法,在白光正交偏振系統(tǒng)中,利用hsv色度系統(tǒng)分析白光干涉色,得到干涉色圖像的色調(diào)值,并使用soleil-babinet補償器標(biāo)定不同延遲量和其對應(yīng)的白光干涉色的色調(diào)值之間的定量關(guān)系,從而實現(xiàn)了根據(jù)白光干涉色的色調(diào)值計算延遲量的目的。在補償器絲桿步進位移0.02mm的情況下,延遲量標(biāo)定精度為0.95nm。實驗測量了一塊565nm的零級全波片,所得結(jié)果與使用分光光度計測量的結(jié)果相吻合。結(jié)果表明:光源光強不穩(wěn)定及波片光軸方位角的變化對延遲量測量影響很小。

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精密位移量的激光干涉測量方法及實驗

精密位移量的激光干涉測量方法及實驗

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精密位移量的激光干涉測量方法及實驗 4.8

精密位移量的激光干涉測量方法及實驗 一、實驗?zāi)康模?1.了解激光干涉測量的原理 2.掌握微米及亞微米量級位移量的激光干涉測量方法 3.了解激光干涉測量方法的優(yōu)點和應(yīng)用場合 二、實驗原理 本實驗采用泰曼-格林(twyman-green)干涉系統(tǒng),t-g干涉系統(tǒng)是著名的邁克爾遜 白光干涉儀的簡化。用激光為光源,可獲得清晰、明亮的干涉條紋,其原理如圖1所示。 he-ne激光器 擴束準(zhǔn)直系統(tǒng) m1(參考鏡) m2(測量鏡) 干涉條紋 l1 l2 d bs l /2 圖1t-g干涉系統(tǒng) 激光通過擴束準(zhǔn)直系統(tǒng)l1提供入射的平面波(平行光束)。設(shè)光軸方向為z軸,則此平 面波可用下式表示: ikzaezu)((1) 式中a平面波的振幅,2k為波數(shù),激光波長 此平面波經(jīng)半反射鏡bs分為二束,一束經(jīng)參考鏡m1,反射后成為參考光束,其復(fù)振 幅u

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物體微小振動光學(xué)干涉測量方法的研究

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物體微小振動光學(xué)干涉測量方法的研究 4.5

物體微小振動光學(xué)干涉測量方法的研究 作者:張濤 學(xué)位授予單位:北京交通大學(xué) 本文讀者也讀過(9條) 1.王小芳四波耦合微振動光學(xué)測量的研究[學(xué)位論文]2006 2.周曉輝.楊耀權(quán).盧海霞.楊麗一種非接觸振動測量方法的設(shè)計與實現(xiàn)[期刊論文]-儀器儀表與分析監(jiān)測2005(4) 3.蘇鐵基于dsp控制的光子美容機的研制[學(xué)位論文]2010 4.雷和平非線性光干涉測量微小振動方法的研究[學(xué)位論文]2009 5.郭廣平.計欣華.秦玉文.杜家吉微振動測量的光外差干涉儀[會議論文]-2000 6.王冬云.楊國光鏡像光衍射技術(shù)及其在測量中的應(yīng)用[期刊論文]-光學(xué)學(xué)報2001,21(9) 7.于浩ccd相機測量對比度的校正方法研究[學(xué)位論文]201

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正交偏振激光干涉振動測量方法與實驗研究文檔信息

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正交偏振激光干涉振動測量方法與實驗研究文檔信息 4.6

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激光干涉儀使用方法

激光干涉儀使用方法

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激光干涉儀使用方法 4.6

用激光干涉儀系統(tǒng)進行精確的線性測量 — 最佳操作及實踐經(jīng)驗 1簡介 本文描述的最佳操作步驟及實踐經(jīng)驗主要針對使用激光干涉儀校準(zhǔn)機床如車床、銑床以及 坐標(biāo)測量機的線性精度。但是,文中描述的一般原則適用于所有情況。與激光測量方法相 關(guān)的其它項目,如角度、平面度、直線度和平行度測量不包括在內(nèi),用于實現(xiàn)0.1微米即 0.1ppm以下的短距離精度測量的特殊方法(如真空操作)也不包括在內(nèi)。 微米是極小的距離測量單位。(1微米比一根頭發(fā)的1/25還細(xì)。由于太細(xì),所以肉眼無 法看到,接近于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的極限值)。可實現(xiàn)微米級及更高分辨率的數(shù)顯表的廣泛 使用,為用戶提供了令人滿意的測量精度。盡管測量值在小數(shù)點后有很多位數(shù),但并不表 明都很精確。(在許多情況下精度比顯示的分辨率低10-100倍)。實現(xiàn)1微米的測量分 辨率很容易,但要得到1微米的測量精度需要特別注意一些細(xì)節(jié)。本文

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梁冰涵

職位:主任結(jié)構(gòu)工程師

擅長專業(yè):土建 安裝 裝飾 市政 園林

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